半导体2级管或者半导体2级管成管的测试方法中HTGB和HTRB的区别

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内容提示:绝缘栅双极晶体管IGBT可靠性分析与解决方案研究

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用于各种封装的的二、三极管、橋堆、mosfet和可控硅等分立器件进行高温反偏高温栅偏试验(htrb/htgb)、高 温漏电流测试(htir)和老化筛选, 根据客户对设备的要求价格也有所区别

杭州汉瑞电子有限公司成立于1999年,专业从事半导体2级管元器件老化测试座、老化测试板、老化测试设备的开发和生产
公司投入大量资金和囚力先后开发了100多个品种的高温老化测试座,一改过去老化测试座清一色进口的局面不仅为广大客户降低了成本,而且大大缩短了采购周期
2002年老化测试板系列质量全面升级,使用寿命延长50%以上高温老化板整体品质遥遥领先国内同行,处于国际领先地位
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